膜厚测量仪
膜厚测量仪是一款非接触式测量设备。采用全新的超高精密运动装置驱动共焦位移传感器进行在线扫描，主要是用来测量各种薄膜厚度、导电油膜厚度、涂胶厚度、涂层厚度等。专门解决工业上膜厚测量的问题，改善工艺，提高生产效率和质量。
扫描速度可以达到50mm/s，线宽15mm。扫描速度可以达到50mm/s，的测量技术，专业的测量算法，±1um的高测量精度，±0.5μm的重复精度可满足您高精度测量需求。
型号 CLS-T150 测量速度 ≤50mm/s 测量时间 ≤2秒/次 测量点间距 ≥5μm自由设置 测量精度 ±1μm 行程(X方向) 15mm-40mm（可选） 重复精度（X） ±0.5μm 量程(Z方向) 360μm/1000μm/3100μm 精度（Z） ±0.1μm/0.5μm/1μm 最小可测厚度 1μm 采样频率 200Hz-4.5kHz 吸合电压 24V DC 吸合时间 500ms 主机输入电 90-264V AC 主机额定功率 400W 传感器输入 24V DC 3A
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思显光电技术（上海）有限公司是一家专业光谱共焦位移传感器生产商，掌握的光谱共焦测量技术，致力于工业自动化测量行业，为客户提供具有竞争力的产品和专业的解决方案。公司在英国、法国、中国等地设有研发机构，根据自动化行业的发展和客户的需求，不断创造研发新产品和新应用。公司拥有十余年的自动化行业应用经验，对生产现场有着深刻的理解，为客户提供专业负责的应用提案和技术支持。公司每一个应用的销售之前，都要求给客户做实际的测试评估，以保证客户准确的设计方案和选型。
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