OPTM 系列显微分光膜厚仪

 •  使用显微光谱法在微小区域内通过*对反射率进行测量，可进行高精度膜厚度/光学常数分析。

•  可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了 即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件。

•  头部集成了薄膜厚度测量所需功能

•  通过显微光谱法测量高精度*对反射率（多层膜厚度，光学常数）

•  1点1秒高速测量

•  显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）

•  区域传感器的安全机制

•  易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析

•  独立测量头对应各种inline客制化需求

•  支持各种自定义

测量项目：

•  *对反射率测量

•  多层膜解析

•  光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）

OPTM 系列显微分光膜厚仪

上海波铭科学仪器有限公司成立于2013年，是一家专业从事科学仪器研发、生产、销售于一体的高科技技术企业。公司主要服务于各大高校、科研院所和高*工业客户。主要提供光学仪器如光栅光谱仪、荧光光谱仪，膜厚测量仪，探测器响应分析仪、太阳能电池量子效率测试系统等科研实验室仪器；及光学机械加工设计，电子测量等专业的解决方案服务。公司以“专注质量、用心服务”为核心价值。希望通过我们的专业水平和不懈努力，力争为中国的科研及精密制造事业贡献一股力量。

上海波铭科学仪器公司为美国理波公司（Newport）、日本大塚（Otsukael）正式代理商。配有专业光学技术人员，专注于光学仪器市场的开发和应用，已经为复旦大学、上海交通大学、上海科技大学、南京大学、中国科技大学、北京大学、清华大学、联影医疗、思特威电子等用户提供专业的服务。

公司成立多年来，我们一直秉承以用户需求为核心，在专注光学等核心技术市场的同时，已经为超过一百家高校科研院所和企业提供了成套和部分的解决方案服务。优质、用心的服务赢得了众多用户的信赖和好评。公司不仅仅提供专业的光学解决方案服务，同时还建立了完善的售后服务体系。我们相信，通过我们的不断努力和追求，一定能够实现与高校、企业、科研院所的互利共赢！

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