平面自动位移透过率检测仪

平面自动位移透过率检测仪

一、平面自动位移透过率检测仪介绍：

平面自动位移透过率光谱分析仪是在透过率光谱分析仪的基础上增加了检测平台的自动位移功能，实现平面光学元件（尤其是大尺寸产品）的任意点测量

二、仪器特点：

1、检测速度快快***探测器，可在1秒内实现标定范围内；

2、具有3轴控制，X轴400mm，Y轴300mm,Z轴200mm,其中X/Y轴是自动轴，Z轴是手动轴；

3、适用于玻璃尺寸大于50*50mm，小于300*200mm，厚度小于1mm，透过率测量

4、强大的玻璃数据库及数据管理功能轻松实现数据分析、存储，调用，打印功能

5、自主开发软件，满足不同功能需求

6、可协助客户进行膜系设计及工艺开发

三、软件功能解析：

1、一键式完成操作，简单方便，提升工作效率

2、规格设定保存更好更方便切换产品，提高工作效率

3、简易方便的操作界图，快速***完成工作

名称：平面自动位移透过率检测仪

型号：BCSP-T

检测范围：380-1100nm

波长分辨率：1nm

信噪比：500:1

杂散光：0.05%@600nm        0.02%@400nm

相对检测误差：<>

测定方法：参比空气透过率

重复性：±0.2%（380-410nm）  ±0.05%(450-1000nm)   ±0.2%(800-1100nm)

单次测量时间：<>

波长精度：<>

被测物尺寸：平面光学元件尺寸：大于50*50mm,小于300*200mm,厚度<>

设备重量：约30KG(光源外置）

设备尺寸：1500（W）*1000(D)*1700(H)

使用环境：水平且无振动的场所温度：23±5摄氏度    湿度：60%以下、无结露