XT-50型冲击试样缺口投影仪 返回列表页

 XT-50型冲击试样缺口投影仪根据GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。
技术参数：
1.投影屏直径：        180mm
2.工作台尺寸：
方工作台尺寸：    110×125mm
圆工作台直径：    90mm
工作台玻璃直径：  70mm
3.工作台行程：
纵向：            ±10mm
横向：            ±10mm
升降：            ±12mm（无刻度）
4.工作台转动范围：    0~360°（无刻度）
5.仪器放大倍率：      50X
物镜放大倍率：    2.5X
投影物镜放大倍率：20X
6.光源（卤钨灯）：    12V    100W
7.电源：             220V    50Hz
8.外形尺寸：         515×224×603mm（长×宽×高）
9.重量：             约18Kg