CST-50型冲击试样缺口投影仪 返回列表页

一、性能特点：
     CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。
 
二、技术参数：
 1、投影屏直径：180
 2、工作台尺寸：方工作台：110×125
　　　　　　　  圆工作台：Φ90mm
　　　　　　　  工作台玻璃直径：Φ70mm
 3、工作台行程：纵向：±10mm　
　                    横向: ±10mm　　
                       升降: ±12mm
 4、工作台转动范围：0～360º
 5、仪器放大倍率：50×；
      物镜放大倍率：2.5×
      投影物镜放大倍率：20×；
 6、光  源:(卤钨灯)12V/100W
 7、电  源：220V/50Hz；
 8、重  量:约18kg
 9、外型尺寸：515×224×603mm(长×宽×高)