分光密度仪2 返回列表页

产品介绍

一、分光密度仪HC-119B特点介绍

HC-119B分光密度仪可同时测定SCI(包含镜面反射光)包(消除镜面反射光)技术*的数字化光泽控制。 仅用1.5秒即可同时完成SCI与SCE的测定，并通过液晶面板显示SCI/SCE数据，再也不必进行频繁的机械式的SCI/SCE切换，不仅提高了作业效率，避免了测定时的位置偏移而得到准确、稳定的测定数据。

二、分光密度仪HC-119B技术参数

1.照明 / 受光光学系统：d/8 (扩散照明，8°方向受光) SCI/SCE同时测定 (无机械切换)

(根据DIN 5033 第七部份、JIS Z 8722的条件C、ISO 7724/1、CIE 5、ASTM E1164)

2.积分球尺寸：?52mm

3.分光方法：平面回折光栅

4.测定波长范围：360nm至740nm

5.测定波长：间隔10nm

6.半值宽度：约10nm

7.反射率测定范围 0至175%、显示分解能力;0.01%

8.测定用光源：脉冲氙弧灯3个

9.测定时间：约1.5秒 (荧光测定时：约2秒)

10.最小可测间隔SCI/SCE测定时间3秒 (荧光测定时：约4秒)

11.测定直径 / 照明直径MAV：?8mm / ?11mm

12.观测光源：A、C、D50、D65、F2、F6、F7、F8、F10、F11、F12 (2种光源下可评价)
注：如需详细了解相关仪器的报价、参数，厂家等详情可：