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CMI900 X射线荧光镀层厚度及材料组成分析仪

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更新时间:2022-03-03 19:30:04浏览次数:112次

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CMI900 X射线荧光镀层厚度及材料组成分析仪
产品名称:CMI900 X射线荧光镀层厚度及材料组成分析仪 产品介绍:

用途:
广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材
料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料
组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准
确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中
文版SmartLink Fp应用软件包,实现了对CMI900/950主
机的全面自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手
动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计
报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足
您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据
图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数
据平均值、误差分析、值、最小值、数据变动范围、
相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直
方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。 CMI900/950系
列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的
样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,
分别为:
●标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
●扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
●可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
●程控样品台:XYZ轴自动控制。
●超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。

CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样
品台供用户选用,
分别为:
●全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm
x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。
●Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品高度为270mm。
●全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品高度为356mm。
●可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚
度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。
服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持
测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm)
测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)

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