当前位置:上海瓦克仪器有限公司>>元素含量分析仪器>> XRF-1800扫描道波长色散型X荧光光谱仪
250μm微区分布成像分析功能!
扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高,增加了250μm微区分布成像分析功能,从而达到更高水平。
可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。
稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例
高次谱线的判定更加准确,提高了定性定量分析的准确度/可靠性。
利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例
使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例
微区分析结构
特殊形状的滑动式视野限制光栏,利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动,可以在30mm直径内的任意位置进行分析。
利用CCD相机可以直接观察样品(选配件)
在测定室导入样品的位置上,将样品容器按照与测定位置相同的方式放置,通过CCD摄取样品的图像,可使测定位置与图像相吻合。
配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗X射线管
配备平均寿命在5年以上的高可靠性X射线管。与传统的3kWX射线管相比,轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。
精华的模块功能,匹配分析功能
对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件,在这基础上可编制合适的分析条件。可根据不同材质判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。请输入账号
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