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TT230涂覆层测厚仪

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产品型号TT230

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更新时间:2022-03-09 17:12:13浏览次数:140次

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详细描述概述TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量;可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量
详细描述
概述
TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪
是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量;可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
TT230涂层测厚仪符合以下标准: 
GB/T 4957-1985 涡流方法
JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪
TT230涂层测厚仪功能特点
采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
设有五个统计量:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
具有米、英制转换功能
操作过程有蜂鸣声提示
具有错误提示功能
具有自动关机功能

TT230涂层测厚仪技术参数
测头类型:N
测量原理:电涡流
测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式:一体化
示值误差: 一点校准(um):±[3%H+1.5];两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
测量条件: 最小曲率半径(mm):凸3、凹10;基体最小面积的直径(mm):ф5最小临界厚度(mm):0.3
温湿度:0~40℃     20%RH~90%RH
统计功能:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
存储能力:500个测量值
关机方式:自动
电源:二节1.5V干电池
重量:150g
TT230涂层测厚仪基本配置
主机
铝基体
标准片一套
使用说明书

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