FEI Scios是一款高分辨率DualBeam分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供二维和三维性能。FEI Scios 的功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。
FEI Scios核心技术。透镜内FEI Trinity能够同时收集所有信号，既节省了时间还能形成鲜明的对比度，从而有助于采集尽可能多的数据。透镜下同心后散射检测器能提高效率，使您可以根据信号的角分布选择信号，从而轻松分离材料和形态对比度，即使着陆能量为 20 eV 也是如此。
Scios DualBeam 特别适合用于金属、复合物和涂层等众多材料，能够：
>执行高分辨率、高对比度成像，对磁性样本也不例外
>使用Trinity检测套件同步检测材料、形态和边缘对比度，从而分析材料的全部属性
>借助漂移抑制光刻，无需制备样本即可制作具有位置特异性的切片，甚至可以对非导电材料进行操作
>生成三维数据立方体确定金属中夹杂物的大小和分布，或对裂纹各个方向的应力和应变进行分析
>搭配EasyLift可快速可靠地制备高质量样本，而且只需小的电子束能量即可获得高质量的S/TEM结果
>针对DealBeam常见应用提供“用户指南”和逐步工作流，使得任何经验水平的操作员都能即刻上手
生命科学应用
有效的生物成像需要使用能够支持众多不同应用且不会降低对比度和分辨率的多功能设备。FEI Scios是一款易于使用的仪器，能使您的众多不同应用和工作流更具灵活性，功能更强大，而且借助高效和增值工作流， Scios能让您在短时间内获得准确的结果。
网站客服
