完善的高精度轮廓测量仪
· CV-3200—Z轴检测装置中的圆弧光栅尺确保了总行程为+30mm时分辨率可高达0.04μm。
· CV-4500—Z轴检测装置中的圆弧光栅尺,有效保证了全部测量范围内高达0.02μm的分辨率。
· 无需根据记录倍率改变Z轴无分辨率。无序切换范围,有效提高可操作性。
· 用于FORMTRACEPAK轮廓分析程序兼容WindowsR95/98/NT4.0/2000操作系统,便于测量。
· 可通过外置控制箱进行定位、开始/结束测量、返回以及远程进行其它操作。
· 采用陶瓷导轨有效防止摩擦。