完善的高精度轮廓测量仪
CV-3200/4500 系列是在 Z1 轴 (检出器) 上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂的轮廓测量仪。
高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现高精度和高分辨力。
产品特点:
· CV-3200—Z轴检测装置中的圆弧光栅尺确保了总行程为+30mm时分辨率可高达0.04μm。
· CV-4500—Z轴检测装置中的圆弧光栅尺,有效保证了全部测量范围内高达0.02μm的分辨率。
· 无需根据记录倍率改变Z轴无分辨率。无序切换范围,有效提高可操作性。
· 用于FORMTRACEPAK轮廓分析程序兼容WindowsR95/98/NT4.0/2000操作系统,便于测量。
· 可通过外置控制箱进行定位、开始/结束测量、返回以及远程进行其它操作。
· 采用陶瓷导轨有效防止摩擦。
与传统型号相比,新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm,同时减少了工件的干扰。
测臂安装部采用了磁性链接件,单此接触就能完成测臂的装卸,提高了易用性。
• 专为CV-4500系列增加了以下两大特性:
(1) 装配双面测针,实现垂直方向 (上/下) 连续测量,所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。
(2) 测力可在 FORMTRACEPAK 软件中设置。无需调整配重位置。