2024-09-10 03:58:03123
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- 产品型号:SDC-600
- 厂商性质:其他
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半导体晶圆接触角测量仪Wafer水滴测试晶圆表面分析测量系统、晶圆表面张力分析系统适用于半导体晶圆（Wafer）工艺的质量控制。提供晶圆（Wafers）表面的快速并准确的接触角/表面能分析，从而评估粘性，洁净度及镀膜
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