2025-04-22 13:44:36247
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绝缘电阻劣化离子迁移测试HAST，PCB为确保其长时间使用质量与可靠度，需进行SIR(SurfaceInsulationResistance)表面绝缘电阻的试验，透过其试验方式找出PCB是否会发生MIG(离子迁移)与CAF(玻纤纱阳极性漏电)现象。
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