2024-05-15 12:28:2187
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- 厂商性质:其他
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形位公差测量系统用于产品的外形尺寸、高度、段差等的测量与分析，包括微位移传感器和变送器两部分，变送器可配备多只小量程的位移传感器，变送器对采集到的位移传感器信号进行分析处理，得到被检测的产品的外观尺寸
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