LE1000-2硅片厚度测厚仪-广州峰仪机电科技有限公司

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更新时间：2022-03-04 14:08:01浏览次数：123次

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美国米特尔LE1000-2薄膜测厚仪

简介：
LE1000-2硅片厚度测厚仪是接触式测厚仪，因为性价比高、准确度高、低力值接触/受压能力，居于地位，在北美，亚洲和欧洲市场广泛应用于：塑料胶片、塑料膜、硅片生产商。
一、仪器特点：
LE1000-2硅片厚度测厚仪拥有*新式的高精度内部光学测量仪器。通过电缆释放装置cable release）或空气压力连接柱塞驱动。适用于薄膜厚度、位移、位置及尺寸的精确测量。LE 1000-2是大部分测量应用的理想仪器。是*具性价比的机械测量法塑胶薄膜和薄片厚度测定仪器。

二、功能及优势：
LE1000-2硅片厚度测厚仪的系统高精度：优于± 0.2 μm
固定支架：直径80mm的坚固钢圈及铸钢基座，适用于精确的重复测量。
线性：贯穿整个12mm或25mm的测量范围。
操控简便：提供控制器的用户友好设置界面，可设置单位及其它特性。
压强极低：LE 1000-2的修正版本可提供“*低压强”，适用于薄膜厚度测定
RS-232 输出：可连接计算机或数据采集系统
美国米特尔LE1000-2测厚仪的数据采集系统：传输实时数据到Excel®, Access®或其它Windows适用程序，可同时将信息发送到CSV 磁盘文档 (可选择)
自动归零按钮：仪器闲置时可自动归零，轻易实现测量的增减。
柱塞驱动：通过电力释放装置，或工作部件，或气压
测量范围更长：60mm及100mm适用
LCD显示：可显示测量结果、设置参数及操控功能。
完整的系统：包括传感器、控制器、支架、钢索起重器(with MT12/25)及std. 测量端
探头感应面积：5平方毫米
样品*大规格：50平方厘米。

三、满足标准：
ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、JIS、BS等标准。

：田先生
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