当前位置：中山安源仪器有限公司>>材料可靠性、失效分析>>涂镀层测厚仪>> 日立FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
1.即放即测！ 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 3.可无标样测量！ 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！ 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 可从250×200mm的样品整体图像测量位置。 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。 型号 FT110A 测量元素 原子序号Ti（22）～Bi（83） X射线源 空冷式小型X射线管 检测器 比例计数管 准直器 ○型： 0.1 mmΦ、0.2 mmΦ 他2種 样品观察 CCD摄像头 对焦 激光对焦（自动） 滤波器 一次滤波器（自动切换） 样品区域 [固定]535×530 mm 测量软件 薄膜FP法（2层、10种元素）、检量线法 安全功能 样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能 1. 通过自动定位功能提高操作性
2. 微区膜厚测量精度提高
3. 多达5层的多镀层测量
4. 广域观察系统（选配）
5. 对应大型印刷线路板（选配）
6. 低价位
管电压：50（可变更）kV
管电流：10～1000µA
[电动] 260×210 mm (移动量X:250 mm, Y:200 mm)
· 图像处理软件
· 块体FP软件（材料组成分析）
· 块体检量线软件（电镀液分析）
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