当前位置：中山安源仪器有限公司>>材料可靠性、失效分析>>涂镀层测厚仪>> FT110A | 台式XRF镀层测厚仪
产品介绍
FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合高标准。
准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心，而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用，提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材，将全天候支持您的设施满足的行业电镀规范。
产品特点
专为高通量生产而设计，来看 FT110A 如何支持您的质量控制。
强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果
对成品安全的无损检测
自动化功能提高生产力
分析多达四层和基材，加上电镀液
易于非专业操作员使用
测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987
大样品舱可容纳各种样品
可定制的选项以适合您的应用
技术参数
| FT110A |
|
| 元素范围 | Ti – U |
| 探测器 | 正比计数器系统 |
| 样品舱设计 | 开闭式或开槽式 |
| 准直器数量 | 2 或 4 |
| 最小准直器 | 0.025 x 0.4 mm |
| XY轴样品台选择 | 程控或固定 |
| XY轴样品台行程 | 250 x 200 mm |
| 程控Z轴行程 | 150 mm |
| 样品尺寸 | 500 x 400 x 150 mm |
| 样品聚焦 | 聚焦激光和可选的自动聚焦 |
| 样品视图 | 摄像头视图和可选的第二广角摄像头 |
| 测量点识别 | 可选 |
| 软件 | X-ray Station |
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