北京德华振峡科技有限公司
原子力显微镜 AFM 是利用测量探针与样品之间的作用力,进行纳米级的*高精度扫描分析。 除了表面形貌还可以采用不同的测量模式分析材料的其他特性。扫描范围从20um×20um到80um×80um。 可应用于半导体行业、汽车制造、皮革工业、造纸工业、生物学、聚合物、MEMS等 我们的客户名单上有众多的世界杰出企业。
原子力显微镜 用于半导体行业的测量
X,Y测量范围: 20umX20um; 40umX40um; 80umX80um
Z测量范围: 2um 4um 6um
X,Y分辨率: 0.1nm
Z分辨率: 0.01nm
原子力显微镜 (AFM)通过一个微小尺寸
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