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NSTAR-200近红外光谱透反射性能测量系统

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集透射和反射测量于一体，波段覆盖780-1600nmNSTAR-200近红外光谱透反射测量系统集反射和透射测量功能于一体，用于测量材料的光谱反射率/光谱透过率，测量波段范围覆盖780-1600nm

详细介绍

集透射和反射测量于一体，波段覆盖780-1600nm

NSTAR-200近红外光谱透反射测量系统集反射和透射测量功能于一体，用于测量材料的光谱反射率/光谱透过率，测量波段范围覆盖780-1600nm。系统应用远方公司多项技术，可快速精确测量近红外宽波段范围内光谱透反射率，系统测量灵敏度高，稳定性、复现性好，杂散光小，可满足较低透反射率的深色样品测量，主要用于各类材料研发实验室。

主要特点：

● 兼容反射和透射测量：反射测量d/8，SCI和SCE可选；透射测量为d/0几何；

● 附NPL溯源标准色板，溯源性好；

● 稳定性好，测量精度高，满足较低透反射率的深色样品测量。
型号
NSTAR-2000
测量几何
兼容透反射测量
波长范围
780nm～1600nm
波长准确度
±0.5nm
反射率范围
0-99%
测量重复性
0.2%
测量孔径
反射测量：Ф28mm 透射测量：Ф20mm
接口
USB

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型号	NSTAR-2000
测量几何	兼容透反射测量
波长范围	780nm～1600nm
波长准确度	±0.5nm
反射率范围	0-99%
测量重复性	0.2%
测量孔径	反射测量：Ф28mm 透射测量：Ф20mm
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