广州文明机电有限公司
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概要台式XGT-5200系统搭载的X射线导管，允许高空间分辨率的X射线荧光分析--从1.2毫米到10微米
台式XGT - 5200系统搭载的X射线导管，允许高空间分辨率的X射线荧光分析--从1.2毫米到10微米。无需任何样品制备或真空--样品仅需要放置在样品室中，即可在正常大气压力下分析。整合的软件可控制样品的移动，获取数据分析（包括定性和定量分析，并生成成分组成图像）。将样品放在样品祥中后，只需几秒钟，借助直观的“point and click"选择分析位置，即开始抓取数据。
样品观察采用同轴几何呈象，可消除视差，您可以相信，看到的样品即是测量的位置。
仪器装载了两个X射线管，从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束，可适用于一系列实验。这些光管传递的高强度光斑确保了的数据获取时间。而光管的单毛细管设计非常适合高强度的元素成像，甚至对于不平整样品同样有效。
通过自动采样扫描很容易获得XRF面扫描图像，样品下方的第二次信号检测能同时收集X射线透射图像。这项技术可提供额外的结构信息，极有利于对兴趣区域的定位，或了解样本的内部结构。
的空间分辨率
HORIBA的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析，X射线光斑直径小到10微米。这种强度的超细光斑，可进行快速无损的微细结构分析。
X射线透射成像
结合XRF成像， XGT–5200可抓取透视图像。这可被用来进行内部结构分析，定性那些眼睛不可见的区域。用垂直束窄扫描完成后，得到清晰穿透图像甚至非平面样品，如圆筒形部件。
完整地分析整个样品
该样品室可以容纳广泛的样品进行分析，从10 μm的微区功能的点分析，到250pxX250px大面积分析。
整合数据采集和分析的操作软件
直观的软件可以轻松地控制仪器硬件，快速采样的可视化和选择测量区域，全面的数据分析。功能包括自动峰识别，定量测量， RGB图像生成，线剖面分析。
型号 | XGT-5200 |
原理 | 能量色散型X射线荧光光谱分析法 |
检测元素 | Na～U(试样在大气中) |
样品形态 | 塑料、金属、纸、涂料和油漆等的液体(液体试样容器为可选项)，生物样品 |
样品室环境 | 大气 |
X射线光斑 | 10µm，50µm，100µm，400µm，1.2mm,3mm |
X射线管 | 50kV/1mA, 铑（Rh）靶材 |
检测器 | SDD硅漂移检测器 |
样品台 | 100mm×100mm(面扫描尺寸), 200mm×200mm(可选) |
样品室 | 400×350×40mm(可定制特殊尺寸) |
光学成像 | 整体图像: 100mm×100mm (标准:400,000象素, 可选: 2百万象素) |
分析方法 | 定性: 自动定性功能,背景显示, ROI 颜色分辨, 匹配功能 |
数据管理(可选) | Excel® 数据管理软件,检测报告输出 |
电源 | AC100, 120, 220, 240V 50/60Hz |
重量 | 约 280kg |
外形尺寸 | 680(W)833(D)670(H)mm |
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