广州文明机电有限公司
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产品规格FIB检测元素范围Mg～UF～U（选配）X射线发生装置5～50 kV,1mA靶材Rh一次滤波器 最多9种 自动交换标准：OPEN,ND,Cr,Pb,Cd选配：Cl,Cu,Mo,Sb准直器3种 自动交换0
产品规格
FIB
| 检测元素范围 | Mg～U |
|---|---|
| F～U（选配） | |
| X射线发生装置 | 5～50 kV , 1mA |
| 靶材 | Rh |
| 一次滤波器 最多9种 自动交换 | 标准：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd |
| 选配：Cl, Cu, Mo, Sb | |
| 准直器3种 自动交换 | 0.9mm, 2mm, 9mm |
| 检测器 | 硅漂移检测器（SDD） |
| 样品室尺寸 | 300mmφ×80mmH |
| 样品室气氛 | 大气 / 真空(选配） |
| 样品室观察机构 | 彩色摄像机 |
| 操作用电脑 | Windows ® 触控屏 台式电脑 |
| 分析软件（标准） | 定性分析（自动定性、KLM标记、和峰显示、谱图检索） 定量分析（块状FP法、检量线法） RoHS分析解决方案（Cd, Pb,Cr, Br, Hg) 简易分析解决方案 报告制作软件 |
| 分析软件（选配） | 薄膜FP法分析软件 关联滤波器FP法分析软件 |
| 日常检查软件（标准） | 管球升压、能量校正、强度校正 |
Windows ® 为美国微软公司在美国或其它国家的注册商标或商标。
主要附件
样品室真空排气单元
多样品自动交换单元
滤波器组
滤膜FP 法分析软件
薄膜FP 法分析软件
和峰消除软件
镍镀层筛选解决方案
锡镀层筛选解决方案
氯元素筛选解决方案
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