东莞市赛思检测设备有限公司
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高低温冲击应力筛选试验箱
高低温冲击应力筛选试验箱 用途：
高低温冲击快速温变试验箱对不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)
高低温冲击应力筛选试验箱 特点：
1、可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能；
2、等均温速率赛思可设定范围5℃～30℃/min(40℃/min)；
3、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求；
4、赛思采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行；
5、除霜周期三天除霜一次，赛思每次除霜只需1小时完成；
6、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能；
7、感测器放置测试区出（回）风口赛思设计符合实验有效性；
8、机台多处报警监测，配置无线远程报警功能；
高低温冲击应力筛选试验箱 技术优势：
传统设备低温控制方式：制冷压缩机启停控制温度（温度波动大、严重影响压缩机寿命，已淘汰的技术）制冷压缩机恒定运行+加热PID控制（导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡，浪费了大量的电能）新型PWM冷控制技术实现低温节能运行：低温工作状态，加热器不参与工作，通过PWM技术控制调节制冷机组制冷剂流量和流向，对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节，实现对工作室温度的自动恒定。
高低温冲击应力筛选试验箱 标准：满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求。
| 产品&规范 | 厂商名称 | 高温 | 低温 | 温变率 | 循环数 | 循环时间 | 备注 |
| MIL-STD-2164、GJB-1032-90 | —— | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | —— |
| MIL-344A-4-16 | 设备或系统 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
| MIL-2164A-19 | —— | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 10℃/min | 10 | —— | 驻留时间为内部达到温度10℃时 |
| NABMAT-9492 | 设备或系统 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 驻留时间为内部达到温度5℃时 |
| GJB/Z34-5.1.6 | 组件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 达到温度稳定的时间 |
| GJB/Z34-5.1.6 | 设备或系统 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 达到温度稳定的时间 |
| 笔记本电脑 | 主板厂商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
高低温冲击应力筛选试验箱 技术规格：
| 型号 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
| 内箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
| 外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
| 温度范围 | -80.00℃～+200.00℃ | |||
| 低温冲击范围 | -10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃ | |||
| 高温冲击范围 | +60.00℃～+150.00℃ | |||
| 时间设定范围 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
| 温度波动度 | ≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） | |||
| 温度偏差 | ≤±2℃（-65℃～+150℃） | |||
| 温度均匀度 | ＜2.00℃以内 | |||
| 温变速率（斜率） | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
| 温变范围 | -55℃～+85℃//+125℃ | |||
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