OPTACOM粗糙度轮廓测量仪-上海伊丰精密仪器有限公司

OPTACOM致力于各行业领域的实验室或工作现场精密轮廓粗糙度测量需求，为您提供各种类型的轮廓形貌扫描测量仪或精密轮廓粗糙度综合测量仪。仪器参数符合ISO、DIN、JIS、EN等各类标准。CNC全自动X、Z轴采用全程大量程高精度光栅尺，选配上下双向测针，Y轴自动工作台同时可测量旋转类工件内外径几何尺寸(自动锁定拐点测直径)，内外轮廓形貌等。再选配分度头装夹工件，可测量圆度、圆柱度及不同截面的复杂几何尺寸。

主要特点：
◆仪器主体结构采用轻型耐用的航空合金材料
◆ X轴与Z轴采用独立机械系统，可同时实现X&Z双轴全量程范围内连续扫描，并保持针尖分辨率恒定
◆ X轴与Z轴采用独立整体光栅系统
◆ THK供给的超精密线性导轨
◆ 非接触式增量光栅的测量系统，密闭式的设计可降低磨损和提高读数可靠性
◆ 轻型高强度碳纤维聚合物测量臂
◆ 电子反馈测力机构
◆ 快速装卸测针装置，可自定位
◆ 操纵杆全自动控制测量

硬件特点	软件优点
模块化设计，升级简单	所有测量模块，一个测量软件
维护保养成本低	人性化的软件，操作简单
增量式光栅	软件支持中文及多国语言
测针全自动接触工件表面	一次测量即可评价轮廓度、粗糙度、圆度
测针坚实耐用,全自动防撞保护系统	全自动测针校准
固定式测杆系统	可自定义打印模板
425X425mm标准测量范围	测量和打印多窗口独立显示
移动亦可测量，测量亦可移动

型号	VC10	VC10EL	VC10UL	LC10
X轴测量范围mm	225	325	425	225
Z轴测量范围mm	225	325	425	225
X轴Z轴全量程分辨率	0.002μm			0.02μm
针尖分辨率	小于3nm			小于30nm
测量力(软件自动调节)	0-150mN
测量长度	0.1-225/325/425mm
爬坡能力	上坡78°, 下坡87°