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北京合能阳光新能源技术有限公司
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产品型号
品 牌
厂商性质其他
所 在 地
更新时间:2023-12-24 21:02:25浏览次数:64次
产品分类 品牌分类
电池片质量检测仪器
全部产品列表
经营模式:其他
商铺产品:2条
所在地区:
产品特点:■适合于硅材料的氧、碳含量的测定
产品特点: ■适合于硅材料的氧、碳含量的测定; ■可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量; ■具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出功能,使得操作更简单、方便、灵活; ■全密封防潮、防尘干涉仪的设计使仪器对环境的适应能力更强; ■外置式红外光源部件的设计使得仪器具有更高的热学稳定性,无须动态调整就具有稳定的干涉度; ■高强度红外光源采用球形反射装置,可获得均匀、稳定的红外辐射; ■程控增益放大电路、高精度A/D转换电路的设计及嵌入式微机的应用,提高了仪器的精度及可靠性; ■光谱仪与计算机间通过USB方式进行控制和数据通讯,实现即插即用; ■通用微机系统,全中文应用软件界面友好、内容丰富; ■专用样品固定架; ■高稳定性和抗震性; ■保质期:12个月。 技术参数: ■检测下限:1.0X1016cm-3(常温) ■检测硅料硅片厚度范围为:0.1~3.5mm ■波数范围:7800cm-1~400cm-1 ■分辨率:优于0.5 cm-1 ■波数精度:±0.01 cm-1 ■CZ-Si(直拉硅)中氧含量精密度为±10% ■FZ-Si(区熔硅)中氧含量精密度为±20%,检测下限为1×1016 cm-3 。符合“硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法"国家标准(GB/T 1557-89)的要求。 ■扫描速度:0.2~2.5 cm/s,微机控制,选择不同的扫描速度,档次连续可调。 ■信噪比:优于15,000:1(RMS值,在2100 cm-1 处,4 cm-1分辨率,DTGS探测器,1分钟数据采集。) ■分数器:KBr基片镀锗 ■探测器:标准配置DTGS,任选MCT ■光源:高强度空气冷却红外光源 数据系统: ■通用微机,连接喷墨或激光打印机,可输出高质量的光谱图。 ■软件:全新中文MainFTOS软件:Windows9X/2000/XP操作系统下的通用操作软件系统。包括谱库检索软件、定量分析软件、谱图输出软件及专用红外谱库。 仪器尺寸: ■光学台: 63*52*24cm 电源: ■交流:220V/50HZ ■功率:1000VA 主要客户: 锦州阳光能源、江苏天源、峨眉739、河北晶龙集团、无锡尚德、天津环欧等。
产品特点: ■适合于硅材料的氧、碳含量的测定; ■可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量; ■具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出功能,使得操作更简单、方便、灵活; ■全密封防潮、防尘干涉仪的设计使仪器对环境的适应能力更强; ■外置式红外光源部件的设计使得仪器具有更高的热学稳定性,无须动态调整就具有稳定的干涉度; ■高强度红外光源采用球形反射装置,可获得均匀、稳定的红外辐射; ■程控增益放大电路、高精度A/D转换电路的设计及嵌入式微机的应用,提高了仪器的精度及可靠性; ■光谱仪与计算机间通过USB方式进行控制和数据通讯,实现即插即用; ■通用微机系统,全中文应用软件界面友好、内容丰富; ■专用样品固定架; ■高稳定性和抗震性; ■保质期:12个月。
技术参数: ■检测下限:1.0X1016cm-3(常温) ■检测硅料硅片厚度范围为:0.1~3.5mm ■波数范围:7800cm-1~400cm-1 ■分辨率:优于0.5 cm-1 ■波数精度:±0.01 cm-1 ■CZ-Si(直拉硅)中氧含量精密度为±10% ■FZ-Si(区熔硅)中氧含量精密度为±20%,检测下限为1×1016 cm-3 。符合“硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法"国家标准(GB/T 1557-89)的要求。 ■扫描速度:0.2~2.5 cm/s,微机控制,选择不同的扫描速度,档次连续可调。 ■信噪比:优于15,000:1(RMS值,在2100 cm-1 处,4 cm-1分辨率,DTGS探测器,1分钟数据采集。) ■分数器:KBr基片镀锗 ■探测器:标准配置DTGS,任选MCT ■光源:高强度空气冷却红外光源
数据系统: ■通用微机,连接喷墨或激光打印机,可输出高质量的光谱图。 ■软件:全新中文MainFTOS软件:Windows9X/2000/XP操作系统下的通用操作软件系统。包括谱库检索软件、定量分析软件、谱图输出软件及专用红外谱库。
仪器尺寸: ■光学台: 63*52*24cm
电源: ■交流:220V/50HZ ■功率:1000VA
主要客户: 锦州阳光能源、江苏天源、峨眉739、河北晶龙集团、无锡尚德、天津环欧等。
硅材料碳氧含量测试仪:HS-OCT-2000
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