北京金拓丰仪器设备有限公司
北京金拓丰仪器设备有限公司
MarSurfXC20为轮廓评估的产品
MarSurf XC 20 为轮廓评估的产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过技术发展为优秀质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。
| 接触速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
| 测杆长度 | 175 mm, 350 mm |
| 测量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
| 针尖半径 | 25 µm |
| 扫描长度末尾（X 方向） | 200 mm |
| 分辨率 | Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆） 在 Z 方向，相对于测量系统：0.04 µm |
| 扫描长度开始（X 方向） | 0.2 mm |
| 取样角 | 在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77° |
| 定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
| 导块偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
| 测量范围 mm | （Z 方向）50 mm |
| 扫描长度（文本） | 0.2 mm 至 200 mm |
| 测量力 (N) | 1 mN 至 120 mN，以下和以上（可在 MarSurf XC 20 中设置 |
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
百分零部件网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
