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NDVI归一化指数植被测量仪1、概述SRS-NDVI归一化植被指数测量仪可在近地面对冠层归一化植被指（NDVI）进行长期定位监测
概述SRS-NDVI归一化植被指数测量仪可在近地面对冠层归一化植被指（NDVI）进行长期定位监测。NDVI对绿色植被反应敏感，常被用于研究植被的生长状态。SRS-NDVI测量仪传感器制作工艺考究、坚固耐用，可在各种恶劣天气条件下正常工作；其体积小巧，安装简易方便；性价比高，可在多处布点。
NDVI是由冠层对近红外波长（810nm）的反射率与红光波长（650nm）的反射率之差比上两者之和计算得到，因此需同时安装向上和向下两个传感器来监测冠层对这两个波长的反射率。
向上的SRS-NDVI传感器检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过余弦校正，具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空，没有冠层和其他地物。
向下的SRS-NDVI传感器也是检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在36°以内，这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。
耗电量低
性价比高
支持SDI-12或DDI串行通讯协议
自动测量、收集数据
航海级环氧树脂密封工艺，可在湿热环境中长期使用
若使用ZL6数据采集器，可通过互联网终端实现远程数据查看和下载
单株植物或群落冠层的归一化植被指数（NDVI）动态监测
监测植被返青、衰老和受胁迫状态
冠层有效辐射截获量
冠层生长物候监测
冠层叶面积指数
冠层生物量积累
NDVI 波段 | 波长峰值：650±5nm和810±5 nm |
准确度 | 优于光谱辐照度和辐亮度值的10% |
电子光学组件 | (1) 特氟龙余弦校正器，半球视野 |
校准 | 符合美国国家标准及技术研究所标定标准（NIST traceable）光谱辐照度 (W m-2 nm-1) 或辐亮度 (W m-2 nm-1 sr-1) |
测量时间 | ~600 ms |
尺寸 | 43×40×27mm |
重量 | 传感器：47g，传感器带5m线：170g |
供电 | 3.6 ~ 15 VDC, 测量期间（300ms）4 mA，待测期间30µA |
工作温度 | -40~70℃ |
接口类型 | 3.5 mm耳机接口或镀锡裸线接口 |
通讯 | SDI-12 数字传感器 |
支持数采 | METER ZL6, Em50系列, EM60系列数采, ProCheck。CSI数采 |
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