杭州高裕电子科技有限公司
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可控硅老化系统符合标准：MIL-STD-750、GJB-128等试验标准
可控硅老化系统
符合标准：MIL-STD-750、GJB-128等试验标准。
适用范围：适用于各种封装形式的可控硅（闸流晶体管）寿命试验（功率循环）和耐压试验。
产品型号 | PC–CS-100A-AC | HTRB-CS-AC |
产品名称 | 可控硅交流寿命老化系统 | 可控硅高温交流耐压老化系统 |
试验温区 | 强迫风冷，水平风道， 20套风冷系统 | 高温试验箱1台 温度范围：室温～200℃ |
试验区域 | 10个 | 8个 |
试验通道 | 20个 | 16个 |
试验工位 | 20个 | 22×16=352位 |
试验电源 | 10台5V/200A交流电源 | 8台交流高压稳压源。1000V/1A。 |
试验电流/电压 | 5～100A | 试验电压1000V AC |
驱动检测板 | 20套 | 16套 |
ON/OFF控制系统 | 20套 | |
温度检测系统 | 20套 | |
上位机 | 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。 | |
主要功能 | ◆ON/OFF时间、循环次数、试验电流上下限。 ◆实时监测显示老化参数（IF、VF、TC）及循环次数； ◆实时记录保存老化参数（IF、VF、TC）； ◆实时判断是否超限，超限报警并记录超限工位及超间； ◆老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制相关变化曲线。。 | ◆漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定；老化时间的设定； ◆实时监测显示老化参数（IR、VR、Temp）及老化时间、老化进度； ◆实时记录保存老化参数（IR、VR、Temp）； ◆实时判断是否超限，超限报警并记录超限工位及超间； ◆老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线。 |
电网要求 | 三相AC380V，10KW | 单相AC220V，4KW |
外形尺寸 | WхHхD：165х188х105（cm） | WхHхD：138х188х112（cm） |
重量 | 约500kg | 约500kg |
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